ATGX310系列
光学薄膜厚度测量仪
产品概述
光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
工作原理
光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它利用波长范围最宽为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有一定程度的透射，ATGX310就能根据反射回来的干涉光谱拟合计算出薄膜的厚度，最大测量范围可以达到10nm~250um，可以同时完成多达3层膜厚的测试。核心部件使用ATP3010P高分辨率、高灵敏度光谱仪，多达4096像素元的CCD阵列，为测量结果的准确性提供了可靠的保证。
产品特点
没有更多耗时的基准校正 , 不再浪费更多的时间预热光源, 您仅需将ATGX310连接到计算机的USB端口，4000小时的光源，及内建光谱校准意味着几乎没有维护成本, 更意谓着量测精确.独特的暗箱室结构，可以让您在任何光亮环境中准确测量。
规格及参数
光学系统
Ø 标准氘卤组合灯光源
Ø 准直照明，积分球接收
Ø 接收器：微型光纤光谱仪
Ø 波长范围：200-1100
Ø 测量范围：0-100%
技术参数
Ø 波长准确度 ±0.5nm
Ø 波长重复性 ≤0.2nm
Ø 光谱带宽 1nm
Ø 杂散光 ≤0.05%
Ø 透射比准确度 ±0.5%
Ø 透射比重复性≤0.5%
应用范围
Ø 眼镜、太阳镜、防嗮保护膜
Ø 各种光学元件、滤光片等
Ø 平面玻璃、塑料制品
Ø 手机显示屏、液晶屏
Ø 其他透明或半透明材料
实验搭建
基于微型光纤光谱仪（ATP3010P）、R3测量支架（R3）、氘卤灯光源（ATG1020）、光纤准直镜（FIBH-2-UV）以及紫外光纤（FIB-600-UV）搭建的光学镀膜厚度测量系统。
