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ATX3880_镀层无损分析 X射线荧光测厚仪

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型号 : ATX3880
关键词 : 测厚仪
产品详情

综合概述

ATX3880是一款X射线荧光侧厚仪,主要用于镀层厚度测量及组成成分的分析。

X荧光光谱技术,是由高能X射线激发原子电子层,使得原子核外电子发生跃迁,造成二次X射线能量释放,因不同的元素释放的能量具有不同特性,探测系统测量这些能量和数量,从而计算元素含量。

ATX3880为用户提供了一种操作方便,且性价比极高的检测技术,不会损坏被测样品,可以快速获得样件的镀层厚度和组成成分信息。同时可分析几十种以上元素,五层镀层。

ATX3880机身结构小巧结实,外形优美,使用方便,一键操作,检测速度快,分辨率高。可迅速制作样件的检验结果证书。测试数据可同步上传网络,易于查看和分享。


型号

功能特征

ATX3880

测厚仪 XRF技术


产品特点

l 超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

l 易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果

l 有助于识别镀层成分的创新型功能

l 按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件的镀层厚度的精确结果

l 可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

l 测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享

l X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用


应用领域

l 电镀厂

l 电子电器厂

l 钢铁厂/合金厂

l 质量技术监督局

l 汽车制造

l 检测中心


1. 仪器应用演示

1. 打开仪器上盖

2. 放入样品

3. 在软件中点击“开始”按钮,测量完成,显示分析结果。如下图

2. 测试样品示例



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