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ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪

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型号 : ATP5104
产品详情

产品概述

     ATP5104是奥谱天成针对紫外光谱,特别研制的高性能紫外增强型微型光纤光谱仪,它采用3072像素的紫外增敏线性CCD,可以适应165-1100nm波长范围的测试,CCD检测器曝光时间可以控制在1ms之内,同时,奥谱天成为ATP5104特别定制了超低噪声CCD信号处理电路,其量化噪声小于3 counts,为业界最佳水平,可以帮助您可以获得极高的光谱信噪比。

   ATP5104是紫外、可见、近红外光谱应用的理想选择,有不同的狭缝、光栅、反射镜、滤光片可以选择,可以根据您的需求,配置适合不同应用场合的光谱仪,光谱范围从165nm起至1050nm,光谱分辨率可在0.5到4.0nm之间选择,奥谱天成也可为OEM客户提供定制选择。

   ATP5104可以接收SMA905接口光纤输入或者自由空间输入的待测光,根据设定的积分时间进行测量,将测量结果通过USB2.0(高速)或者UART输出;


特点:

  • 紫外增强高性能背照式CCD

  • 专门针对紫外优化的光路和结构;

  • 探测器:背照式CCD

  • 探测器像素:3072

  • 超低噪声CCD信号处理电路

  • 光谱范围: 165-1100 nm

  • 光谱分辨率: 0.1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)

  • 光路结构:交叉C-T

  • 积分时间:2ms-130s

  • 供电电源:DC 5V±10% @ <2.3A

  • 18 bit, 570KHz A/DConverter

  • 光输入接口:SMA905或自由空间

  • 数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART

  • 20针双排可编程外扩接口

典型应用:

  • 拉曼光谱仪

  • 微量、快速分光光度计;

  • 光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析

  • 透过率、吸光度检测;

  • 反射率检测;

  • 紫外、可见和短波近红外

  • 波长检测



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